Kietųjų medžiagų cheminės ir fazinės sudėties tyrimai rentgeno spindulių fluorescencinės spektroskopijos metodu
Kietųjų medžiagų, tokių kaip metalai, metalų lydiniai, puslaidininkiai, keramika, gruntas, uolienos, druskos, cheminės ir fazinės (mineraloginės) sudėties tyrimai rentgeno spindulių fluorescencinės WD-XRF ir EDX spektroskopijos metodais
Kietųjų medžiagų cheminės ir fazinės sudėties tyrimai rentgeno spindulių difrakcijos (XRD) metodais
Kietųjų medžiagų, tokių kaip metalai, metalų lydiniai, puslaidininkiai, keramika, gruntas, uolienos, druskos cheminės ir fazinės (mineraloginės) sudėties tyrimai rentgeno spindulių difrakcijos (XRD) metodais.
Nedidelių matmenų, sudėtingos konfigūracijos metalo ar keramikos gaminių cheminė sudėtis
Tiriama EDX metodu skenuojančiame elektroniniame mikroskope Helios Nanolab 650 (FEI Company) ir EVO-50 (Carl Zeiss).
Plonų (10-40 nm) paviršiaus sluoksnių cheminė sudėtis ir cheminių elementų būsena bei jų pasiskirstymas pagal gylį
Tiriama rentgeno fotoelektronų spektroskopijos (XPS) metodu spektrometru Axis Supra+ (Kratos Analytical).
Kietųjų medžiagų paviršiaus ir skersinių pjūvių vaizdai
Pjūviai ruošiami naudojant fokusuotų galio jonų pluoštelį (FIB). Vaizdai gaunami elektroniniu mikroskopu Helios Nanolab 650 (FEI Company). Mikroskopo skyra iki 0,9 nm.
Kietųjų medžiagų vidinės struktūros tyrimai
Nano ir mikroninių dydžių dalelių formos, cheminės sudėties ir kristalinės struktūros tyrimas peršviečiančiuoju elektroniniu mikroskopu Tecnai G2 F20 X-TWIN (FEI Company). Mikroskopo skyra iki 0,1 nm.
Irina Fiodorova
El. paštas: irina.fiodorova@ftmc.lt
Tel. nr.: +37063376518